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Anwendungen schnell und umfassend mit JTAG ProVision

JTAG ProVision wurde auf der Basis unserer einzigartigen Erfahrungen und unseres Know-hows entwickelt und zeichnet sich durch die gleiche Robustheit und Zuverlässigkeit wie unsere anderen professionellen Classic Boundary-Scan-Tools aus. ProVision hat sich schnell als das führende Entwicklungs-Tool für alle Boundary-Scan-Anwendungen etabliert. Es ist das einzige Tool, das eine fortschrittliche Automatisierung mit den umfassenden Steuermöglichkeiten und der hohen Präzision kombiniert, welche die Ingenieure zur Optimierung ihrer Designs benötigen. Mit ProVision können Sie Ihre Test- und In-System-Programmier-Routinen schnell erstellen und diese dann im Hinblick auf eine umfassende Testabdeckung optimieren. Die wichtigsten Funktionen und Vorteile sind:

 

Geeignet für Baugruppen mit einzelnen und mehreren Ketten, sowie Designs aus einzelnen und mehreren Baugruppen

Maximale Flexibilität und minimale Einschränkungen für Systementwickler

Schnelle Erstellung von Test- und ISP-Routinen, selbst bei komplizierten Systemarchitekturen

Design-Wizard für alle Anwendungen

Einfach zu lernen, kann sogar nach längerer Pause wieder  rasch eingesetzt werden

Fortschrittliche Darstellungs- und Steuermöglichkeiten

Optimierung des Designs für eine maximale Testabdeckung

Integriert in JTAG Visualizer

Darstellung der Boundary-Scan-Ergebnisse im Schaltplan und Layout

Fehlerabdeckungsanalyse

Ermitteln Sie Ihre Testabdeckung bevor Sie in das Layout gehen.

Vergleichen Sie die aktuellen Testergebnisse mit dem für Ihr Design möglichen Optimum

Automatisierung durch Bauteilmodellbibliothek

Erstellen Sie rasch Anwendungen für Test und In-System-Programmierung

Unterstützung von IEEE 1149.6

Erstellen Sie automatisch Tests, die Fehler in fortschrittlichen digitalen Netzen, wie LVDS, auf Pin-Ebene entdecken und diagnostizieren können

 

JTAG ProVision beweist, dass keine Kompromisse notwendig sind, um sowohl eine einfache Bedienung, als auch Ergebnisse mit hoher Qualität zu ermöglichen.

 

 

 

 

  • Vermeiden Sie Entwicklungsänderungen und optimieren Sie Ihre Testergebnisse. Folgen Sie den Ratschlägen in unserem informativen DFT Booklet.

 

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Sprechen Sie mit uns.

 

 

JTAG Functional Test (JFT)

 

JFT bietet eine neue Möglichkeit zur Erstellung von Cluster-Tests (d. h. zum Test von Nicht-Boundary Scan Anteilen auf der Baugruppe). Im Gegensatz zum konventionellen Vektor-basierenden Ansatz ist JFT Sprach-basierend. Die Programme werden mit Hilfe der populären Open Source Sprache Python erstellt, wodurch ein Test auch von sehr komplexen sequenziellen Clustern möglich ist.

 

Es können sowohl einzelne Pins, als auch ganze Pin-Gruppen angesteuert und überwacht werden, zudem stehen für die Ablaufsteuerung die Möglichkeiten einer höheren Programmiersprache zur Verfügung. Somit lassen sich komplexere Tests für Bauteile oder Funktionsblöcke aus mehreren Bauteilen oder Bauteil-Clustern erstellen. JFT vereinfacht dadurch den Test von Mixed-Signal-Bauteilen, wie ADCs und DACs, die beispielsweise einen Anwendereingriff oder eine mehrfache Wiederholung von Testmustern zur Einstellung von Bauteilregistern, etc. erfordern.

 

Das JFT Datenblatt können Sie hier herunterladen