Test fortschrittlicher digitaler Netze: IEEE 1149.6

IEEE 1149.1 eignet sich ideal für den Test hinsichtlich struktureller Probleme bei konventionellen digitalen Netzen, aber im Hinblick auf LVDS oder kapazitiv-gekoppelte Schaltungen ist dot1 unvollständig.  Bei LVDS kann es zu unerkannten Fehlern und bei AC-gekoppelten Netzen zu falschen Fehlern kommen. Daher wurde IEEE 1149.6 entwickelt, eine Erweiterung von dot1, die auch AC-EXTEST genannt wird.  Es werden dot6-konforme Bauteile auf der Sende- und Empfangsseite der fortschrittlichen Netze genutzt, um impulsförmige Daten zu senden und zu empfangen.  Damit lassen sich alle Fehlerart von LVDS oder kapazitiv-gekoppelten Netzen (zum Beispiel offene Pins, Kurzschluss zu Masse, offener Kondensator, etc.) anhand der Reaktion auf die Datenimpulse entdecken.

JTAG ProVision erkennt die Anwesenheit von dot6-konformen Bauteilen und generiert automatisch fortschrittliche Tests mit genauer Diagnose.  Die Diagnose kann erkannte Fehler genau lokalisieren und mit Hilfe von JTAG Visualizer kann der fehlerhafte Bereich im Schaltplan und im Layout- dargestellt werden.