JTAG Boundary-Scan auf der Basis des IEEE-Standards

JTAG Technologies unterstützt und beteiligt sich aktiv an der Entwicklung von Industriestandards. Wir leiteten beispielsweise die allererste Arbeitsgruppe Ende der 1980er Jahre, welche die bahnbrechende IEEE 1149.1 Spezifikation entwickelte.  Dieser Standard definiert das erstmals 1990 vorgestellte JTAG-Boundary-Scan und wurde seither zweimal aktualisiert.  Der Standard definiert Testlogik zur Integration in die integrierten Schaltungen, die dann auf Baugruppenebene einen genauen strukturellen Test und eine In-System-Programmierung ermöglichen.

Seit der Vorstellung der IEEE 1149.1 Spezifikation wurden drei weitere Standards entwickelt, die alle auf der "dot1"-Basis aufbauen und diese für spezifische Zwecke erweitern.

Analog Boundary-Scan, IEEE 1149.4,  wurde im Jahr 2000 und ac-EXTEST, IEEE 1149.6,  wurde 2003 vorgestellt. Beide erweitern die Testmöglichkeiten von Boundary-Scan über den ursprünglichen digitalen Bereich hinaus.  Der dritte Standard, IEEE 1532, definiert ein einheitliches Beschreibungsformat für programmierbare Bauteile, wie PLDs und FPGAs, so dass sich diese mittels Boundary-Scan komfortabler konfigurieren lassen.

Und es sind noch eine Reihe weiterer Aktivitäten zur Erweiterung von JTAG-Boundary-Scan im Gange. Hierzu gehören:

• IEEE 1149.7, wird auch als Reduced-Pin-Count JTAG bezeichnet

• P1581, eine Testerweiterung für Speicherbauteile

• SJTAG, eine Erweiterung für den Test auf Systemebene

JTAG Technologies wird weiterhin sehr eng mit den beteiligten Arbeitsgruppen zusammenarbeiten, um seinen Wettbewerbsvorsprung zu erhalten. Weitere Informationen erhalten Sie über die offizielle IEEE-Website.