Aufgeteilte Scan-Ketten

Entgegen der gängigen Meinung ist die Zusammenschaltung aller Boundary-Scan-Bauteile zu einer einzigen Kette nicht immer die beste DFT-Lösung (Design for Test). Es gibt eine Reihe von Gründen, die für eine Aufteilung der Scan-Ketten sprechen, wie beispielsweise zur Optimierung der Flash-Programmierung, die Vermeidung zusätzlicher Pegelumsetzer bei mehreren Spannungspegel und um die Anforderungen proprietärer Debugging-Tools zu erfüllen. Die Hardware und Software von JTAG Technologies unterstützt problemlos mehrere Scan-Ketten und Spannungspegel. Weitere DFT-Tipps finden Sie in unserer Broschüre DFT Guidelines, die wir Ihnen auf Wunsch gerne zusenden.