Strategische Partner

National Instruments

JTAG Technologies ist ein Partnerunternehmen und Alliance Partner von National Instruments. JTAG Technologies Produkte sind mit zahlreichen Produkten von National Instruments wie PXI-basierte Boundary-Scan-Controller oder Softwarepakete für die Produktionsintegration mit TestStand, LabVIEW und LabWindows voll kompatibel.

National Semiconductor Corporation

Mit der System Test Access (STA) Produktlinie kooperiert National Semiconductor mit JTAG Technologies, um strategische Lösungen für Tests auf Systemebene und analoge Tests als Antwort auf die heutigen, weltweit vorhandenen Probleme bei der Fertigung elektronischer Produkte zu definieren. Um diese Lösungen zu realisieren, liefert National Semiconductor die Chips, während JTAG Technologies zur Unterstützung dieser Lösungen Produkte und Features liefert, und dabei PCB-Bausteine und Bausteine für die Systemebene von National Semiconductor verwendet. Der JTAG-1149.4 Explorer ist zum Beispiel ein Produkt, mit dessen Hilfe Designer die Möglichkeiten des STA400 Chips von National, der dem IEEE-Standard 1149.4 entspricht (Standard für analoges Testen via Boundary-Scan) explorieren und nutzen können. Die Entwicklungssoftware von JTAG Technologies beinhaltet darüber hinaus einen integrierten Support für die ScanBridge-Reihe der Chainmanagement-ICs von National Semiconductor.

LogicVision

JTAG Technologies ist ein LVReady Partner von LogicVision. Diese Partnerschaft rationalisiert die Integration eingebetteter Tests und Diagnosen auf Bausteinebene in Tests auf Leiterplatten- und Systemebene. Die Anwender profitieren nicht nur von Produktivitätssteigerungen, sondern auch von der Möglichkeit, die Kosten für den Langzeitsupport des Produktes deutlich zu reduzieren, da das Ablehnen zahlreicher fehlerfreier Produkte (NFF) durch die Wiederverwendung der in das Baustein-Silizium eingebetteten Testmuster auf Bausteinebene, Leiterplattenebene bis hin zur Feldumgebung entfällt. Durch die Nutzung dieser leistungsfähigen eingebetteten Testmöglichkeiten und die Analyse der daraus resultierenden Testdaten in Verbindung mit der LVReady Designdatenbank von Logic Vision, können Kunden Fehler im Bausteinsilizium bis zur Gate-Ebene diagnostizieren.

Produkte von JTAG Technologies, die in Zusammenarbeit mit LogicVision entwickelt wurden, bieten einerseits die Möglichkeit, ein ASIC mit eingebettetem Test über die Boundary-Scan-Schnittstelle zu testen und die daraus resultierenden Testdaten in Verbindung mit der Designdatenbank von LogicVision zu analysieren. Andererseits kann es bei einem Boundary-Scan-Test erforderlich sein, einen eingebetteten Bausteintest als Teil eines Leiterplatten- oder Systemtests auf einer höheren Ebene durchzuführen.