Veröffentlichungen 2008
Effiziente Testlösung für die Fertigung - Ubiquisys und JTAG Technologies
Elektronik Produktion & Prüftechnik online - November 2008
Testing Digital Designs - The Boundary-scan Balance
Electronics Production Wold - October 2008
10 Boundary Scan Tips - Optimize Test Coverage
Evaluation Engineering - September 2008
Boundary-scan geared for mass production
Electronicsweekly - September 2008
Flying Prober vs. Boundary Scan: Wem gehört die Zukunft?
Elektroniknet - August 2008
The Real World of Boundary-Scan Testing
US Tech - August 2008
Unterstützt eine Taktrate von 40 MHz für Agilent Testsystem 3070
ElektronikPraxis - July 2008
Boundary-Scan-Integration - Pinkarten-Controller vereinfacht Installation und Portierbarkeit
Global Electronics - July 2008
JTAG ist mehr als nur ein Port zum Test von Chips
Elektronik Produktion & Prüftechnik - Mai/Juni 2008
Pushing back the boundaries of test
EMP magazine - April 2008
Von der Pin- zur System- Ebene mit Boundary-Scan
ElektronikPraxis - April 2008
JTAG: a versatile port for testing with programming possibilities
ElectronicsWeekly - March 2008
Electronics Manufacture & Test - February 2008
