Reduzieren Sie die Entwicklungskosten

Wollen Sie die in der Entwicklung für das Debugging von Prototypen benötigte Zeit um Wochen verkürzen und das zeitaufwändige, unflexible Vorprogrammieren von Bauteilen vermeiden? Mit den Lösungen von JTAG Technologies können Sie Logikbauteile und Flash-Speicher auch noch nach der Bestückung auf der Baugruppe programmieren - und bei Design-Änderungen sehr einfach umprogrammieren.

Mit unseren führenden Tools JTAG ProVision und JTAG Visualizer haben Sie alles was Sie für die Entwicklung benötigen. Mit JTAG ProVision können Sie schnell genaue und vollständige Tests und ISP-Routinen erstellen. Mit JTAG Visualizer können Sie den Schaltplan und das Baugruppenlayout Ihrer Boundary-Scan-Anwendungen graphisch darstellen und analysieren.

Weitere Informationen über JTAG ProVision und JTAG Visualizer.

JTAG Functional Test (JFT)

JFT bietet eine neue Möglichkeit zur Erstellung von Cluster-Tests (d. h. zum Test von Nicht-Boundary Scan Anteilen auf der Baugruppe). Im Gegensatz zum konventionellen Vektor-basierenden Ansatz ist JFT Sprach-basierend. Die Programme werden mit Hilfe der populären Open Source Sprache Python erstellt, wodurch ein Test auch von sehr komplexen sequenziellen Clustern möglich ist.

Es können sowohl einzelne Pins, als auch ganze Pin-Gruppen angesteuert und überwacht werden, zudem stehen für die Ablaufsteuerung die Möglichkeiten einer höheren Programmiersprache zur Verfügung. Somit lassen sich komplexere Tests für Bauteile oder Funktionsblöcke aus mehreren Bauteilen oder Bauteil-Clustern erstellen. JFT vereinfacht dadurch den Test von Mixed-Signal-Bauteilen, wie ADCs und DACs, die beispielsweise einen Anwendereingriff oder eine mehrfache Wiederholung von Testmustern zur Einstellung von Bauteilregistern, etc. erfordern.

Das JFT Datenblatt können Sie hier herunterladen