Anwendungsberichte

Nutzen Sie den Vorteil von vorhandenen Erfahrungen durch die Anwendungsberichte von JTAG Technologies. Hier wird beschrieben wie mittels von Boundary-Scan Probleme in der Praxis gelöst werden können. Über die Download-Links können Sie PDFs zu den folgenden Themen erhalten:

AN-1    Implementierung von Boundary-Scan-konformen Multichipmodulen für Test- und ISP-Anwendungen

AN-2    Serielle EEPROMs programmieren

AN-2.1 Serial Memory Device Programming

AN-3    Einsatz mehrerer Controller für eine parallele Programmierung

AN-4    Multiplexen von Daten- und Adressleitungen in Flash-Anwendungen

AN-5    Einsatz von Konfigurationen mit mehreren Scan-Ketten

AN-6    DDR-SDRAM Verbindungstest

AN-7    Test freilaufender Takte

AN-8    Nutzung des Boundary-Scan Fault Coverage Examiner, um die Testbarkeit und aktuell erreichte Fehlerabdeckung zu ermitteln

AN-9    Programmierung des Altera Stratix II Design Security Key mittels SVF

AN-10   SVF 32 Bitstromausrichtung für Xilinx Virtex und Spartan 3 Bauteile

AN-11   RESET-Befehl in SVF-Dateien zur PLD-Programmierung

AN-12   Verbesserung der Flash-Programmierleistung durch das Überspringen leerer Bereiche

AN-13   Versie 2.0. Programmierung Flash-Bauteilen von Altera mit aktiv-serieller Konfiguration
Zusätzliche Software ist erforderlich. Einschießlich Cyclone III Family support und EPCS128 support. Eine Reihe von vorbereiteten SVF-Dateien und Beispieldateien für die Flash-Pogrammierung ist in diesem Dokument enthalten.

AN-14 Parallel Programming of Serial Memory Devices

Haben Sie eine einzigartige Anwendung? Lassen Sie es uns wissen.