Symphony von JTAG Technologies: eine kombinierte, kohärente Methodik

In-Circuit Tester (ICT) und Flying Probe Tester sind zwei konventionelle strukturelle Testmethoden, die heute noch häufig eingesetzt werden. Beim ICT wird für jeden Baugruppentyp ein kundenspezifischer Adapter benötigt, der eine große Anzahl von Testnadeln enthält und damit die Testpunkte auf der Baugruppe kontaktiert. Über die Testnadeln werden die elektrischen Stimuli-Signale angelegt und die Reaktion der Baugruppe gemessen.

Ein Flying Probe Tester stellt ebenfalls den physikalischen Kontakt über Testpunkte her, allerdings nur über wenige Punkte gleichzeitig. Je nach Art des Systems kommen zwischen 4 und 24 bewegliche Testnadeln zum Einsatz. Die Testnadeln werden mit hoher Geschwindigkeit bewegt, so dass auch ohne Testadapter viele Testschritte in kurzer Zeit ausgeführt werden können.

Mit zunehmender Baugruppendichte und Komplexität wurde es sowohl für die ICT-, als auch die Flying Probe Tester immer schwieriger einen physikalischen Kontakt zu den Testpunkten auf der Baugruppe herzustellen, daher konnte sich Boundary-Scan als eine überlegene Testtechnologie für die heutigen elektronischen Systeme immer mehr durchsetzen. Allerdings lassen sich gewisse Teile eines Systems nach wie vor problemlos mit ICT oder Flying Probe testen.  Zum Beispiel kann der analoge Teil einer Mixed-Signal-Karte mittels dieser älteren Verfahren sehr gut testbar sein. In solchen Fällen kann der Testsstratege ein kombiniertes Symphony System als ideal geeignet ansehen, bei dem die digitalen Anteile der Baugruppe mit Boundary-Scan-Tools von JTAG Technologies getestet und diese hierzu in den ICT- oder Funktionstester integriert werden. Das Ergebnis ist eine umfassende Teststrategie mit hoher Testabdeckung für die digitalen und analogen Anteile in einer Plattform. Wir bieten Symphony zur Integration in viele gängige Testsysteme an:

• Symphony for the 3070: Kombination unserer Boundary-Scan-Hardware und Software mit Agilent 3070 und zum Einsatz unter dem HP-UX- oder Windows-Betriebssystem. Eine einzigartige Komponente unserer 3070 Symphony Lösung ist der JT 37x7/APC Boundary-Scan-Controller. Das APC wird in einen Pinkarten-Steckplatz des 3070 Testkopfs eingesteckt und ermöglicht somit eine äußerst elegante Boundary-Scan-Integration in Ihr 3070 ICT System.

• Symphony TS/DSM und Symphony TS/CFM: für In-Circuit-Tester von Teradyne (früher GenRad). Ein Teil unserer Lösung ist das CFM Custom Function Module, das eine Isolierung zwischen dem Controller und dem In-Circuit Tester gewährleistet.  

• Symphony APT-9000: für Flying Probe Tester der Serie APT-9400 von Takaya.

• Symphony 3030 SPEA: Für In-Circuit-Testsysteme von SPEA. Ein spezielles Teil unserer Lösung für das SPEA 3030 ist das SAM (SPEA Adapter Module), das eine einfache Boundary-Scan-Integration in Ihren SPEA 3030 Tester erlaubt.

Weitere Integrationslösungen für Hardware und Software von JTAG Technologies sind von unseren OEM Partnern verfügbar.