Erweiterung von Boundary-Scan für den Test von Analog- und Mixed-Signal-Anteilen: IEEE 1149.4

IEEE 1149.4 wurde im Jahr 2000 mit dem Ziel vorgestellt, eine Chip-basierende Lösung zu entwickeln, mit der analoge Messungen auf der Baugruppe ausgeführt werden können.  Die dot4-Spezifikation erweitert den TAP um zwei Pins, einen analogen Treiberpin namens AT1 und einen analogen Sensorpin namens AT2. Durch entsprechende Ressourcen in den dot4-konformen ICs können AT1 und AT2 mit analogen Testbussen verbunden werden und von dort mit den analogen Pins des ICs, die angesteuert oder gemessen werden sollen. Mittels der dot4-konformen Bauteile können Widerstandswerte, Kondensatorwerte und Spannungspegel auf der Baugruppe gemessen werden.

Eine gute Möglichkeit, um mehr über analoges Boundary-Scan zu erfahren, stellt das JTAG Technologies Evaluation Kit dar, das eine Demo-Baugruppe und analoge Messtechnik enthält.