Boundary-scan fur Jeden

Elektronikjournal 05a2010

Boundary-scan for Functional Test

Article published in Embedded Systems Design Europe - February/ March 2010.    

JTAG for functional test

Electronics Manufacture & Test - November 2009

Welche Tests braucht die Baugruppe wirklich?

Elektroniknet.de - Oktober 2009

The missing link

New Electronics - May 2009 

Boundary Scan ergänzt klassische Testverfahren

ElektronikPraxis - April 2009

Boundary Scan wächst weiter

Productronic - April 2009

Looking without touching

Electronics Assembly - February 2009

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