Pressemitteilungen
September 7th, 2010
JTAG Technologies präsentiert neue On-Board Teststeuerung
JTAG Technologies präsentiert ein neues Support-Paket für Baugruppen- und Systementwickler, die einen einfachen BIT-Zugang (Built-in Test) für den Boundary Scan Test und die On-Board (Um)-Programmierung implementieren möchten.
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June 29th, 2010
JTAG Technologies stellt 'SCIP' für In-System-Programmierung vor
JTAG Technologies, ein weltweit führender Anbieter von Tools für den Baugruppentest und die Bauteilprogrammierung auf der Basis des IEEE Standards 1149.x, hat sein Produkt-Portfolio um Bauteil-Programmierlösungen für verschiedene serielle Bussysteme erweitert, wie beispielsweise SMBus, SPI, I2C und MicroWire.
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May 31st, 2010
Boundary-scan tools keep on developing
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January 25th, 2010
JTAG ProVisionTM - jetzt zusätzlich mit 'Buzz'
JTAG Technologies stellt einen Interim-Update für das bekannte Boundary Scan Entwicklungstool ProVision vor. Das Service Pack One für die CD Release 15 (CD15-SP1) enthält das neue kostenlose Durchgangstestmodul 'Buzz' und steht ab sofort für alle Anwender mit einer gültigen Lizenz oder einem Wartungsvertrag unter www.jtag.com zum Herunterladen zur Verfügung.
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November 11th, 2009
Neues Software-Tool für Ihre Debug-Herausforderung
Mit der einzigartigen Produktfamilie JTAG Live.TM wird das Debugging von dicht bestückten elektronischen Baugruppen, die sich für eine konventionelle Adaptierung nicht eignen, entscheidend vereinfacht. JTAG Live ist ideal für Elektronikingenieure und Techniker, die bei ihren Baugruppen eine grundlegende Durchgangsprüfung oder eine Funktionsprüfung durchführen möchten.
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September 29th, 2009
New PCI Express Boundary-scan Controller
JTAG Technologies, a leading provider of IEEE Std. 1149.1 solutions for testing and programming high-density PCBs, announces a further extension of its line of high-performance boundary-scan IEEE Std. 1149.1 controllers. Known as the DataBlaster JT 37x7/PCIe the new unit offers support for the now popular PCI-express slot format found extensively in today's PCs. The PCIe bus is a high-speed serial replacement of the older parallel PCI bus.
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September 15th, 2009
Höhere Testabdeckung mittels JTAG Testroutinen
JTAG Technologies präsentiert mit JTAG Functional Test (JFT) ein neues Werkzeug zur Überprüfung von komplexen Non-Boundary Scan-Clustern. In Ergänzung zum bereits bestehenden ActiveTest-Tool ermöglicht die neue Lösung eine deutliche Vereinfachung der Testvorbereitung und Interpretation der Ergebnisse bei sequenziellen Clustern, dem Test von Mixed-Signal-Bauteilen, wie ADCs und DACs, sowie dem Test von Bauteilen, die einen Anwendereingriff, die Wiederholung von Testmustern zur Einstellung von Bauteilregistern, etc. erfordern.
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June 22nd, 2009
Geotest Inc und JTAG Technologies stellen integriertes System vor
Nach der erfolgreichen Durchführung einer Serie von Seminaren zum Thema JTAG / Funktionstest in Europa und den Vereinigten Staaten schließen Geotest - Marvin Test Systems und JTAG Technologies eine neue Technologie-Partnerschaft. Im Zuge der Partnerschaft bietet Geotest ab sofort vorkonfigurierte PXI-Testsysteme mit dem leistungsfähigen JT-37x7/PXI Boundary-Scan Controller von JTAG Technologies an. Die Boundary-Scan Testoption enthält die Treiber-Suite von JTAG Technologies für die ATEasy Software von Geotest und erleichtert damit die Integration von Boundary-Scan Anwendungen als Teil einer umfassenden Funktionstest-Strategie.
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May 19th, 2009
JTAG Technologies Announces Support for Altera ‘VJI’ Virtual JTAG Interface
JTAG Technologies are pleased to announce a new capability that supports the Altera VJI (Virtual JTAG Interface) Megafunction of Arria® Stratix® & Cyclone® series of FPGAs.
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April 28th, 2009
Boundary-scan Best-in-Test award to JTAG Technologies
JTAG Technologies has been selected by Test and Measurement World as the winner in the boundary-scan category of the prestigious Best-in-Test program for 2008. TMW's Best-in-Test judges select among innovative and beneficial products in several categories, placing JTAG Technologies' Rack-Mountable Instrument at the top of the highly-competitive boundary-scan category. The award was presented at the recent APEX show in Las Vegas.
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March 25th, 2009
JTAG Produktions-Programmierung für digitale Signal-Controller von Texas Instruments
JTAG Technologies, der weltweit führende Anbieter von Boundary Scan-Produkten, hat seine ISP-Unterstützung (In-System-Programmierung) auf eine Reihe von populären DSCs (Digital Signal Controller) von Texas Instruments ausgeweitet. Sowohl Test-, als auch Entwicklungsingenieure profitieren dadurch von einem erweiterten ISP-Bauteilportfolio, das zu den vertrauten Hardware- und Software-Werkzeugen kompatibel ist.
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February 19th, 2009
JTAG ProVision a finalist for EDN’s Innovation Award
JTAG Technologies has been selected as a finalist for EDN Magazine's prestigious Innovation Award for its revolutionary ProVision development tool suite. This award recognizes unique, state-of-the-art electronics products in Design for Test and several other categories.
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February 4th, 2009
Boundary Scan Tools mit verbesserter Benutzerfreundlichkeit und Visualisierung
JTAG Technologies stellt neue verbesserte Versionen der Boundary Scan-Entwicklungs-Tools JTAG ProVision und Visualizer vor. Die beiden führenden Design-Tools wurden mit neuen Funktionen erweitert und sind jetzt noch leistungsfähiger und einfacher zu bedienen.
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November 11th, 2008
JTAG Technologies stellt auf der electronica einen kostengünstigen I/O-Tester mit programmierbaren Spannungspegeln vor
JTAG Technologies, ein weltweit führender Anbieter von IEEE Std. 1149 konformen Boundary Scan-Produkten, stellt mit dem neuen kompakten JT 2149/MPV Pod I/O Scan (PIOS) Modul einen digitalen I/O-Testzugang für Baugruppen vor, die externe I/O-Stimuli benötigen.
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October 28th, 2008
Teradyne und JTAG Technologies entwickeln Testlösung für fortschrittliche digitale Netze
Teradyne, Inc. (NYSE: TER) und JTAG Technologies haben gemeinsam eine Lösung für den Test und die Diagnose von fortschrittlichen digitalen Netzen vorgestellt, die aus einer in eine Teradyne® TestStation(TM) integrierten Boundary Scan-Lösung besteht. Damit können die Anwender einer TestStation mittels Boundary Scan die Testabdeckung ihrer Baugruppen nun auch auf LVDS-, AC-gekoppelte und andere derartige Netzwerke ausdehnen.
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September 1st, 2008
JTAG Technologies supports wide range of Freescale controllers with embedded Flash
JTAG Technologies, a leading provider of IEEE Std. 1149.x boundary-scan solutions for testing and programming printed circuit boards, now offers a family of programming tools for a large number of Freescale Semiconductor controllers with on-chip flash memory. The programmers all offer the convenience and efficiency of on-board programming, allowing blank controllers to be soldered on the PCBs for configuring later and as often as necessary.
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August 20th, 2008
JTAG Technologies’ ProVision raises the boundary-scan bar
JTAG Technologies continues to lead the boundary-scan industry forward with the latest release of its flagship development tool, JTAG ProVision. Already setting the standard for ease-of-use combined with superior test quality, ProVision now encompasses even more functionality within its highly graphical user interface.
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July 1st, 2008
Durchbruch bei der Boundary-Scan-Integration in Agilent 3070
Stevensville, MD, 1. Juli 2008 - JTAG Technologies, ein führender Anbieter von IEEE-Standard 1149.x Lösungen für den Test und die In-System-Programmierung von elektronischen Baugruppen, stellt eine sehr einfach integrierbare Boundary-Scan-Erweiterung für das verbreitete In-Circuit Testsystem (ICT) 3070 von Agilent Corporation vor. Der neue JT 37x7 / APC Controller kombiniert in einer einzigen Steckkarte alle Hardware-Elemente für eine leistungsfähige Boundary-Scan-Lösung zum Test und der In-System-Programmierung von elektronischen Baugruppen. Da sich das APCTM in einen Pinkartensteckplatz (single-density) des 3070 einsetzen lässt, erlaubt die neue Einheit eine sehr einfache Installation mit minimaler Verkabelung und optimaler Signalqualität.
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June 17th, 2008
JTAG Technologies durchbricht die Barriere zwischen Funktionstest und Boundary-Scan
London, 17. Juni 2008 - JTAG Technologies, ein führender Anbieter von IEEE Std. 1149.x basierenden Lösungen für den Test und die In-System-Programmierung von elektronischen Baugruppen, hat die Barriere zwischen dem strukturellem Test und dem Funktionstest durchbrochen. Mit dem neuesten Produkt der leistungsfähigen DataBlaster Boundary-Scan-Controller können die Elektronikhersteller einen Boundary-Scan-Test und einen Funktionstest problemlos kombinieren.
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May 27th, 2008
New JTAG Module Simplifies High-Speed Integration
JTAG Technologies, a leading provider of boundary-scan test tools and an Aeroflex technology partner, announces the availability of the JT 2147/AGP boundary-scan interface for use with Aeroflex high-performance In-Circuit Testers (ICTs). With the availability of the JT 2147/AGP, both current and previous generation 4200 Series systems can be more easily upgraded with a high-performance JTAG Technologies boundary-scan controller.
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April 14th, 2008
JTAG Technologies – more focus on Russia with brand new Russian website and show activities at ExpoElectronica 2008
Bedford, United Kingdom & ExpoElectronica 2008, Moscow - 15th April 2008. As part of its ongoing global expansion, JTAG Technologies, the leading provider of IEEE std. 1149 compliant boundary-scan solutions, has opened an office in St. Petersburg, Russia. Alexey Ivanov, who has considerable experience in boundary-scan and other test fields, has been appointed as the Sales Manager.
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November 15th, 2007
Boundary-Scan-Software mit höherer Funktionalität und Benutzerfreundlichkeit
JTAG Technologies stellt eine neue Version des führenden Boundary-Scan Entwicklungs-Tools JTAG ProVision vor. ProVision hat im Hinblick auf den Funktionsumfang und die Benutzerfreundlichkeit bereits zuvor Maßstäbe gesetzt und bietet jetzt noch mehr Funktionalität innerhalb der graphischen Anwenderschnittstelle.
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November 12th, 2007
Prevas and JTAG Technologies sign Co-operation agreement
Today, Prevas and JTAG Technologies, a leading supplier of boundary scan tools, announce a new industry collaboration. Prevas customers in Sweden and Demark can now be offered additional expertise within the important area of boundary-scan technology that is extensively used for testing and device programming of printed circuit cards and electronic systems.
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November 7th, 2007
Bekannter 3705 Explorer von JTAG Technologies jetzt auch für USB
JTAG Technologies, ein führender Anbieter von IEEE Std. 1149.1 basierenden Lösungen für den Test und die In-System-Programmierung von elektronischen Baugruppen, stellt eine neue USB-Version seines bekannten 3705 Explorers, einer der ersten kommerziell verfügbaren Boundary-Scan-Controller, vor.
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September 29th, 2007
New Digital I/O Scan Test Module Provides Flexibility
JTAG Technologies, a leading world-wide provider of IEEE std. 1149 compliant boundary-scan products, has introduced the JT 2111/MPV Digital I/O Scan (DIOS) module. The module retains a legacy form-factor and default settings but adds programmable voltages to facilitate the enhanced testing of complex printed circuit boards.
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July 30th, 2007
Neues kundenspezifisches Funktions-Modul vereinfacht Boundary-Scan Integration in die TestStation von Teradyne
JTAG Technologies stellt das kundenspezifische Funktions-Modul (CFM) JT 2147 vor, das sich zusammen mit dem Integrationspaket Symphony 228xPLUS in die TestStationTM In-Circuit-Tester (ICT) von Teradyne integrieren lässt.
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June 25th, 2007
Boundary-Scan im Mittelpunkt
Europäisches User-Meeting ein voller Erfolg.
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May 31st, 2007
Seminar zum Thema Boundary-Scan
JTAG Technologies, der führende weltweite Anbieter von Boundary-Scan-Produkten (alias JTAG & IEEE Norm 1149.1) wird am 20.6.2007 ein Seminar zum Thema Boundary Scan durchführen.
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May 31st, 2007
Neue erweiterte Version der Boundary-Scan-Entwicklungs-Software
JTAG Technologies stellt eine neue Version der führenden JTAG ProVision Boundary Scan Entwicklungs-Tools vor.
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January 10th, 2007
JTAG Technologies erhält Best-in-Test® Award für TapCommunicatorTM
JTAG Technologies hat für sein einzigartiges Produkt TapCommunicatorTM einen der renommierten Best-In-Test® Awards erhalten, mit dem jedes Jahr die führenden Produkte der Test- und Messtechnikindustrie ausgezeichnet werden.
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October 23rd, 2006
JTAG Technologies stellt Testlösung mit Diagnose gemäß IEEE-Standard 1149.6 vor
JTAG Technologies, ein führender Anbieter von Boundary Scan-Lösungen, stellt eine umfassende Testlösung für schnelle digitale Netze auf der Basis des IEEE-Standards 1149.6 vor.
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October 23rd, 2006
JTAG Technologies stellt Testlösung mit Diagnose gemäß IEEE-Standard 1149.6 vor
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April 4th, 2006
JTAG ProVISIONTM setzt neuen Standard im Hinblick auf Benutzerfreundlichkeit
JTAG Technologies, ein führender Anbieter von Boundary-Scan-Tools für die Elektronikentwicklung und -produktion, stellt JTAG ProVision vor.
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