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July 30th, 2007

Neues kundenspezifisches Funktions-Modul vereinfacht Boundary-Scan Integration in die TestStation von Teradyne

CFMEindhoven - 30. Juli 2007 - JTAG Technologies, führender Anbieter von Boundary- Scan-Testwerkzeugen und Mitglied des Teradyne® Support Network, stellt das kundenspezifische Funktions-Modul (CFM) JT 2147 vor, das sich zusammen mit dem Integrationspaket Symphony 228xPLUS in die TestStationTM In-Circuit-Tester (ICT) von Teradyne integrieren lässt. Mit dem JT 2147 CFM können bestehende Systeme des Typs TestStation und der vorhergehenden Generation 228x einfach mit einem Boundary-Scan-Controller von JTAG Technologies erweitert werden, so dass diese anspruchsvolle Tests und In-System-Programmierungen ausführen können.

Die Anwender profitieren von einer adapterlosen Offline-Testvorbereitung und der Wiederverwendung von eigenständigen Anwendungen auch auf anderen Stufen des Produktlebenszyklus. Da sich die Anwendungen von JTAG Technologies auf verschiedene Entwicklungs- und Ausführungsumgebungen portieren lassen, können sie auch für das Prototyping oder im Kundendienst genutzt werden. Überdies lassen sich durch die Kombination von ICT und Boundary-Scan die Stärken beider Testtechnologien nutzen, wodurch eine ausgezeichnete Rentabilität bei einer geringeren Testadapterkomplexität erreicht wird.

 

ADTRAN®, Inc. (NASDAQ: ADTN) in Huntsville/USA hat das Symphony 228xPLUS System bereits im Einsatz. ADTRAN verwendet das CFM-Modul, um die vorhandenen Teradyne In-Circuit-Tester einfacher erweitern zu können. Fred Kidd, Senior Test Engineer bei ADTRAN, meint: "Das JT 2147 CFM-Produkt von JTAG Technologies erfüllt voll unsere spezifischen Boundary-Scan-Test Anforderungen und wir sind sehr zufrieden mit den Ergebnissen. Mit dem neuen Modul können wir die Lösung von JTAG Technologies sehr einfach in unsere TestStation In-Circuit-Testumgebung integrieren und damit die Vorteile beider Verfahren auf einer einzigen Testplattform nutzen. Durch den Einsatz dieser Lösung können wir zudem unsere Testadapter vereinfachen, so dass sich nicht nur unsere Kosten reduzieren, sondern wir auch eine höhere Adapterzuverlässigkeit erreichen."

Das JT 2147 CFM ist Ergebnis der engen Zusammenarbeit der Ingenieure von Teradyne und JTAG Technologies. Alan Albee, TestStation Product Marketing Manager bei Teradyne in North Reading/USA meint: "Das CFM von JTAG Technologies ist eine gute Ergänzung unserer Testoptionen für die TestStation und entspricht voll dem Ziel von Teradyne, unseren Kunden eine möglichst vielseitige ICT-Plattform anzubieten."

Das JT 2147 CFM erlaubt die Integration eines Boundary- Scan-TAP-POD in ICT-Systeme. Bis zu zwei CFMs können auf der kundenspezifischen Funktions-Karte (CFB) von Teradyne installiert werden, die eine Isolierung gegen Masse bietet und auch eine Schaltmatrix zur Verschaltung der TAP-Signale auf die Pins des Testadapters enthält. Durch die geringe Baugröße des CFM ist ein einfacher Einbau des CFB in das Testsystem möglich.

 

Über Teradyne

Teradyne (NYSE:TER) ist ein führender ATE-Hersteller (Automatic Test Equipment) für komplexe Elektronik aus den Bereichen Konsumelektronik, Automotive, Datenverarbeitung, Telekommunikation sowie Raumfahrt und Verteidigungstechnik. Teradyne erzielte 2006 einen Umsatz von 1,38 Milliarden US-Dollar und beschäftigt gegenwärtig weltweit rund 3.800 Mitarbeiter. Weitere Informationen finden Sie unter: www.teradyne.com. Teradyne ist ein registriertes Warenzeichen von Teradyne, Inc. in den USA und anderen Ländern.

Über JTAG Technologies

Als Unternehmen mit Hauptsitz in Eindhoven, Niederlande ist JTAG Technologies B.V. der global führende Anbieter von innovativen Boundary-Scan-Produkten (gemäß IEEE 1149.1).  Das Unternehmen liefert eine breite Auswahl an Software- und Hardware-Tools für die Testvorbereitung, Testdurchführung, Testergebnisanalyse und In-System-Programmieranwendungen.  Mit mehr als 4.500 installierten Systemen weltweit arbeitet JTAG Technologies für eine breite Vielfalt an Elektronikherstellern in Industrien wie der Kommunikationstechnik, Medizinelektronik, Avionik, Verteidigung und Automobiltechnik.

 


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