November 11th, 2008
JTAG Technologies stellt auf der electronica einen kostengünstigen I/O-Tester mit programmierbaren Spannungspegeln vor
Eindhoven, Niederlande, November 2008 - JTAG Technologies, ein weltweit führender Anbieter von IEEE Std. 1149 konformen Boundary Scan-Produkten, stellt mit dem neuen kompakten JT 2149/MPV Pod I/O Scan (PIOS) Modul einen digitalen I/O-Testzugang für Baugruppen vor, die externe I/O-Stimuli benötigen.
Das JT-2149/MPV PIOS wird in das normale QuadPodTM Transceiver-System eingesteckt, das zu den bekannten Boundary Scan/JTAG-Controllern der DataBlaster-Serie von JTAG Technologies gehört. Das Modul wird über Steckverbinder oder Adapter/Test-Pins mit der zu testenden Baugruppe verbunden und ermöglicht in Kombination mit den vorhandenen Boundary Scan-Komponenten einen deutlich erweiterten Verbindungstest. Außerdem beinhaltet das PIOS-Modul programmierbare Logik und einen integrierten Oszillator, die sich für kundenspezifische Funktions- und Pattern-Tests nutzen lassen.
Im Hinblick auf eine Implementierung von Boundary Scan- und Funktionstests stellt das JT-2149/MPV-PIOS Test Modul eine Lösung mit dem 'Besten aus zwei Welten‘ dar. Dies ist besonders interessant, wenn die zu prüfende Baugruppe zum Beispiel Elemente wie Steckverbinder und Nicht-Boundary Scan-Logikcluster enthält, auf die nicht direkt über Boundary Scan zugegriffen werden kann. In solchen Fällen ist die Testbarkeit der Baugruppe eingeschränkt, da gewisse Fertigungsfehler unentdeckt bleiben können. Die PIOS-Module erhöhen die Testabdeckung von Boundary Scan, da nun auch Leiterplattensteckverbinder geprüft werden können. Zusätzlich stehen interne Testpunkte für eine weitere Erhöhung der Fehlerabdeckung zur Verfügung.
Obwohl das Modul einen TAP (Test Access Port) im QuadPodTM belegt, verfügt das System durch die Stream-through Option nach wie vor über vier unabhängige TAPs für das Testobjekt. Ein Hot Swapping der Zielbaugruppen wird durch die automatische „Power down between tests‘ Funktion des QuadPodTM unterstützt.
Durch die Simulation der bisherigen DIOS-Scan-Bauteile wird zudem eine 100%-ige Rückwärts-Kompatibilität zu anderen JTAG I/O-Scan-Systemen erreicht. Außerdem können die Ausgangs-und Eingangsspannungswerte auf 1.5V, 1.8V 2.5 V und 3.3V programmiert werden, was ideal für den Test moderner Logikfamilien mit niedrigen Spannungen ist. Die I/O-Kanäle sind in Blocks von je 16 Kanälen gruppiert. Um die Länge der Scan-Ketten zu reduzieren und die Testeffizienz zu erhöhen, ist ein Bypass von beliebig vielen Gruppen mit je 16 Kanälen möglich.
Die Kanäle können mit Hilfe einer kundenspezifischen Verdrahtung (bei kleinen Stückzahlen) oder über Nadelbett-Testadapter (hohe Stückzahlen) mit den zu testenden Baugruppen verbunden werden. Die I/O-Kanäle sind individuell als Eingang, Ausgang, bidirektionaler Kanale oder als Tristate-Signal programmierbar.
Über JTAG Technologies
JTAG Technologies ist ein führender Anbieter und Technologieinnovator von Software, Hardware und Dienstleistungen für den Boundary-Scan-Test. Zu den Innovationen des Unternehmens gehören Lösungen, wie für die automatische Testgenerierung, die automatische Flash- und PLD-Programmierung über Boundary-Scan und die visualisierte Boundary-Scan-Analyse. Unter den Kunden finden sich weltweit führende Unternehmen aus den Bereichen Elektronik-Design und Fertigung, wie Alcatel-Lucent, Ericsson, Flextronics, Honeywell, Medtronic, Motorola, Nokia, Philips, Raytheon, Rockwell-Collins, Samsung und Sony. Die innovativen Boundary-Scan-Produkte ermöglichen eine Testentwicklung, Testausführung, Abdeckungsanalyse und In-System-Programmierung. JTAG Technologies verfügt über eine weltweit installierte Basis von mehr als 5.500 Systemen in der Kommunikations-, Medizin-, Luftfahrt-, Verteidigungs-, Automotive- und Konsumgüterindustrie. JTAG Technologies hat seinen Hauptsitz in Eindhoven/Niederlande und ist mit Niederlassungen in Nordamerika, Europa und Asien vertreten.
