Kürzere Time-to-Market bei niedrigeren Kosten

JTAG Technologies bietet eine umfassende Auswahl von erstklassigen Laufzeitlösungen. Ob Sie OEM oder Fertigungsdienstleister sind, wir haben die passende Laufzeitlösung für Ihre Anforderungen. Sie haben die Wahl zwischen einem eigenständigen Boundary-Scan-System oder einer unserer vielen Integrationsalternativen - für In-Circuit-, Flying Probe- oder Funktionstester.

• Niedrigere Kosten - kürzere Time-to-Market. Boundary-Scan reduziert die Testentwicklungszeiten, verkürzt die Debug-Zeiten für Prototypen und beschleunigt die Neuprogrammierung beim Debugging der Firmware. Dadurch lassen sich die Testadapter deutlich vereinfachen oder können sogar komplett entfallen.

• Höhere Genauigkeit - beginnen Sie mit der Testentwicklung früher im Produktzyklus und zwar noch vor dem Layout, auf der Basis von Design-Informationen und mittels zeitsparender automatischer Tools. Damit haben Sie die Testprogramme einschließlich einer hochauflösenden Diagnose für die Reparatur bereits beim Anlauf der Produktion fertig.

• Kürzere Taktzeiten - Mittels Boundary-Scan können Sie gewährleisten, dass Ihre Baugruppen richtig bestückt sind und Sie können Flash-Speicher und PLDs direkt im System programmieren, trotzdem erreichen Sie hohe Durchsatzraten.

Wir bieten unterschiedlichste Lösungen zur Integration von Boundary Scan in Ihr bestehendes In-Circuit-, Flying Prober- oder Funktionstestsystem an. Dadurch können Sie von den kombinierten Vorteilen profitieren, ohne dass hierfür eine große Investition erforderlich ist. Weitere Informationen finden Sie in unserer Broschüre über Produktionslösungen.

JTAG Technologies unterstützt eine große Palette von programmierbaren Bauteilen, wie embedded Flash, NAND, programmierbare Systembauteile, etc. Weitere Informationen finden Sie auf unserer speziellen Seite zu programmierbaren Bauteilen.